1. 导体及金属屏蔽直流电阻测量

• 试样预处理：
  • 整根电缆或试样应在温度稳定的试验室内放置至少 12h。
  • 若怀疑导体/金属屏蔽温度与室温不一致，应延长至 24h，或将试样置于可控温恒温槽内至少 1h 后再测量。
• 数值校正：
  • 铜/铝导体及屏蔽： 按 GB/T 3956 给出的公式和系数校正至 20℃、1km 的数值。
  • 非铜铝金属屏蔽： 温度系数和校正公式分别从 JB/T 10181.11—2014 的表1和2.1.1获取。
• 合格判定：
  • 导体：校正至20℃的直流电阻不超过 GB/T 3956 规定的最大值或申明值。
  • 金属屏蔽：校正至20℃的直流电阻不超过申明值。

2. 绝缘和外护套厚度测量

• 通用方法： 按 GB/T 2951.11—2008 第8章执行；包覆在皱纹金属套上的外护套按专用方法（见下文）执行。
• 取样： 从电缆一端截除可能受损部分后切取代表性试样。
• 合格要求：
  • 光滑表面外护套： 平均值修约至一位小数后，不应小于标称厚度。
  • 不规则表面外护套（如金属屏蔽线/带、皱纹金属套上）： 平均厚度要求不适用，仅考核最小厚度。

皱纹金属套上外护套厚度专用测量法

• 工具： 球面测头（半径约3mm）、精度±0.01mm的测微计。
• 步骤：
  1. 切取包含至少6个波峰和6个波谷的外护套试样，在外表面画平行于轴线的参考线。
  2. 从一端圆环上确定最小厚度位置，以此为中点沿轴线切取宽20mm~40mm、含6峰6谷的条状试片，清除附着物。
  3. 在6个波谷处分别测量最小厚度，6个值中的最小值即为该外护套的最小测量厚度。

3. 金属套厚度测量（铅、铅合金或铝套）